蔡司Sigma系列产品

蔡司Sigma系列产品将场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验紧密结合。利用Sigma直观的工作流程，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。您可以在更短的时间内采集到更多数据。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1kV或更低电压下获得更佳的分辨率和对比度。配合不同探测器的选择，使Sigma广泛地适用于您的应用：无论是正在开发的新材料、用于质量检查的颗粒还是生物或地质标本，该电镜可助您研究各种样品。在极*条件下，利用可变压力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低电压下，也能在非导体上获得出色的图像和分析结果。

蔡司Sigma系列产品带给您可靠高*的纳米分析体验。Sigma360是一款直观的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），分析测试平台可用于成像和分析。出色的EDS几何学设计，提供高通量分析，可以实现自动原位实验。

无论哪种样品，您总是能获得精准且可重复的分析结果。在低电压下从敏感的样品中获取更丰富的图像信息。

当今的扫描电子显微镜应用需要将低着陆能量（称为低电压或低加速电压）下的高分辨率成  像作为标准，因为这对于研究对电子束敏感或非导电的样品至关重要。这能让您获得真实的  样品表面信息， 而不受样品更深层背景信号的干扰。 Gemini 的电子枪和探测系统得到了优化， 可实现低电压和超低电压条件下的高分辨成像，并增强对比度。在扫描电镜中，因为传递到  样品上的能量较少，低加速电压的入射电子束被用于对电子束敏感样品的成像。同时，低能  量的电子束对样品的穿透力欠佳。这样，您便能够以高分辨率拍摄到敏感样品上无伪影的表面细节。

优化低加速电压成像

电子光学畸变会导致分辨率损失， 这种情况更多地出现在低电压图像中。按照设计，  Gemini 1 镜筒的电子束推进器技术已经能够提供出色的低加速电压图像分辨率。优化的孔径和高分辨 率电子枪模式现在可以进一步优化低加速电压的成像效果。

高分辨率电子枪模式

在高分辨率电子枪模式下，电子束色差降低，从而实现了更小的束斑。在 1 kV 及以下的电压  下，该模式可提供额外的图像分辨率。聚光镜默认设置为优良成像条件（带优化电子束会聚）。 您可以选择提供一系列电流的优化孔径，同时确保高分辨率。额外的聚光镜模式可用于优化  图像景深。

检测器

通常，使用低入射电子束电压和低电子束探针束流可对敏感材料进行高分辨率成像。当涉及 检测从样品中激发出来的电子时，高效的 Inlens SE 探测器不仅可以提供高分辨率，在探针束 流小于 10 pA 时还可增强对比度。借助智能扫描程序的支持（如漂移校正帧平均） ， 即使在 高分辨率下也能保证对样品进行稳定处理。

高*场发射扫描电镜 

ZEISS GeminiSEM 出色的样品灵活性 利用场发射扫描电镜探索未知，满足亚纳米成像、分析和样品灵活性方面的高要求。该系统可实现高通量分析，同时在低电压、高速度和高探头电流条件下提供出色的分辨率。 高图像质量和多功能性 高级成像模式 高效检测，出色分析  历经25余年完善的蔡司Gemini技术探测器种类繁多，覆盖范围广。

该系统可实现高通量分析，同时在低电压、高速度和高探头电流条件下提供出色的分辨率。其观察视野开阔，腔体极为宽敞，即使是大型样品也能轻松检测。

ZEISS GeminiSEM具有两个截然相反的EDS端口和共面EDS/EBSD配置，可提供高效的化学成分和晶体取向表征。您可以信赖高速无影映射。

自定义并自动执行工作流：如果您需要测试材料的技术极限，蔡司可为您提供自动原位加热和机械应力实验室。

应用领域一览

机械、光学和电子元件的失效分析

断裂分析和金相分析

表面、微观结构和器件表征

成分和相位分布

杂质和夹杂物测定